Национальный исследовательский технологический университет

МИСИС

Кафедра физического материаловедения

 

 

 

Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия

(КРЭМ)

 

 

 

Расписание занятий:

Лекция      –                          ауд. Б734

 

Лабораторные работы – ауд. Б415

 

 

Материалы по курсу КРЭМ ч.1 (Кристаллография)

 

Календарный план курса КРЭМ ч.1

 

Материалы к экзамену

Экзаменационный билет содержит два теоретических вопроса и одну задачу.

 

 

Материалы по курсу КРЭМ ч.2 (Рентгенография)

 

Календарный план курса КРЭМ ч.2

 

Материалы к экзамену

Экзаменационный билет содержит два теоретических вопроса и одну задачу.

 

 

 

Материалы по курсу КРЭМ ч.3 (Электронная микроскопия)

 

Календарный план курса КРЭМ ч.3

 

Конспекты лекций:

Рентгенографический анализ кристаллографических текстур

Электронография и нейтронография

Просвечивающая электронная микроскопия

 

Методические указания для выполнения домашнего задания «Расчет концентраций элементов по данным МАР»:

Дьяконова Н.П., Иванов А.Н., КРЭМ. Раздел: Микрорентгеноспектральный анализ, М., МИСиС, 1991, № 412.

 

Вопросы к контрольной работе №1

Вопросы к контрольной работе №2

Вопросы к контрольной работе №3

 

 

Литература.

 

1. Уманский Я.С., Скаков Ю.А., Иванов А.Н., Расторгуев Л.Н. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия. – М.: – Металлургия, 1982. – 632 с.

2. Салихов С.В. Кристаллография. Лабораторный практикум. – М.: Издательский дом НИТУ МИСИС, 2026. – 107 с.

3. Горелик С.С., Скаков Ю.А., Расторгуев Л.Н. Рентгенографический и электронно-оптический анализ. – 4-е изд. М.: МИСиС, 2002. – 360 с.